測(cè)量輻射粒子的厚型氣體電子倍增探測(cè)器THGEM多孔膜板近日在航天科工集團(tuán)試制成功，其高精度、高密度和在較低工作電壓下獲得高氣體增益的特點(diǎn)，將為我國(guó)這類新型氣體探測(cè)器的研發(fā)躋身國(guó)際先進(jìn)水平奠定基礎(chǔ)。
該氣體探測(cè)器研發(fā)項(xiàng)目是中科院研究生院和高能物理研究所合作的國(guó)家自然科學(xué)基金課題，其THGEM多孔膜板由中國(guó)航天科工集團(tuán)公司二院699廠承擔(dān)試制。該探測(cè)器可應(yīng)用于高能物理核物理(如切倫科夫探測(cè)器和熱快中子探測(cè)器)研究、X射線和同步輻射應(yīng)用、宇宙學(xué)空間研究(如暗物質(zhì)探索與航天領(lǐng)域用探測(cè)器)、等離子體診斷、核安全防護(hù)方面的微劑量檢測(cè)與利用宇宙線多次散射檢測(cè)核材料、生物醫(yī)學(xué)成像與對(duì)紫外光區(qū)靈敏的日盲探測(cè)等方面。
據(jù)介紹，自歐洲核子研究中心科學(xué)家發(fā)明氣體電子倍增探測(cè)器GEM多孔膜板以來(lái)，此類膜板僅在極少數(shù)國(guó)外單位制成，在特殊條件下才能少量供應(yīng)。
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